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致茂Chroma 3260自动化系统功能测试机 可靠的高速Pick&Place分类机 同步吸嘴双取及双放设计 具备处理QFP的能力 简易编辑通讯定义（ECD）功能 无测试座损坏的问题 浮动头可有效率衡测试压力

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致茂Chroma 3240-Q无线射频分类机 符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔离室和整合Tester安装 可调整测试间距至120mm 具有八个平行测试站点 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到45x45 mm 精确的定位能力 支援JEDEC和EIA料盘

致茂Chroma 3180八站逻辑测试分类机 具有八个平行测试站点 9Kpcs 产能 弹性的多测点架构 减轻压测力 自动压测力学习 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到50x50 mm 温度测试范围从常温到高温150 ℃ 连续自动重测功能

Chroma 3160C 三温四站终端测试分类机 *温控技术 （Nitro-TEC 氮气温度控制器） 更快的 index time （0.6 sec） 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间 Chamber Less的设计 支持更多样化测试sites的选择 （1/2/4 sites） 更简单快速的更换kit